ВЫБОР СПЕКТРАЛЬНЫХ ПЕРЕМЕННЫХ В МНОГОПАРАМЕТРИЧЕСКОЙ КАЛИБРОВКЕ КОНЦЕНТРАЦИЙ C, Mn, Si, Cr, Ni И Cu В НИЗКОЛЕГИРОВАННЫХ СТАЛЯХ МЕТОДАМИ ЛАЗЕРНО-ИСКРОВОЙ ЭМИССИОННОЙ СПЕКТРОСКОПИИ

Аннотация

По эмиссионным спектрам низкого разрешения (190-440 nm, разрешение 0.4 nm, шаг по спектру 0.1 nm) разработаны многопараметрические модели калибровки концентраций C, Mn, Si, Cr, Ni и Cu методом частичных наименьших квадратов в выборках, содержащих от 31 до 39 эталонов низколегированных сталей. Рассмотрены три метода выбора спектральных переменных: метод ранжирования спектральных переменных по их коэффициенту корреляции с величиной искомого параметра, алгоритм последовательного проецирования и оригинальная модификация метода поиска комбинации движущихся окон. Модель частичных наименьших квадратов с выбором спектральных переменных методом поиска комбинации движущихся окон для C является количественной: среднеквадратичное отклонение 0.004 %, остаточное отклонение в проверочной выборке 23.4 в диапазоне концентраций от 0.13 до 0.43 %. Количественными являются также калибровки концентраций Mn (0.04 % и 5.2 в диапазоне 0.47–1.15 %), Si (0.003 % и 20.7 в диапазоне 0.15–0.33 %), Cr (0.04 % и 3.1 в диапазоне 0.09–0.43 %) и Ni (0.01 % и 4.8 в диапазоне 0.05–0.25 %). Для Cu в диапазоне концентраций 0.06–0.26 % калибровка является качественной (0.04 % и 1.4).