ВЛИЯНИЕ ИНТЕРФЕРЕНЦИИ В ТОНКИХ ПЛЕНКАХ НА ОПТИЧЕСКИЕ ХАРАКТЕРИСТИКИ ГОЛОГРАММ, ЗАРЕГИСТРИРОВАННЫХ НА СЛЯХ As-Se
Ключевые слова:
интерференция в тонких пленках, халькогенидные стеклообразные полупроводники, показатель преломления, отражение, пропускание, оптическая разность хода лучей, дифракционная эффективность голограмм.
Аннотация
Проведена оценка влияния интерференции в тонких пленках на оптические характеристики голограмм, зарегистрированных на слоях халькогенидного стеклообразного полупроводника системы As-Se. Измерены изменения величины отражения, пропускания и оптической разности хода лучей в процессе воздействия актиничного излучения He-Ne лазера на слои. Показано, что интерференционные явления в тонких пленках приводят к колебаниям этих характеристик, а также к колебанию дифракционной эффективности голограмм при изменении толщины слоя.
Опубликован
2023-09-27
Раздел
Статьи
